描述:可測定單縫、雙縫、光柵、圓孔等衍射、干涉條紋的光強分布及偏振光強變化。配有的數顯式檢流計方形導軌長1.2m,中心高200mm 含半導體激光器
可測定單縫、雙縫、光柵、圓孔等衍射、干涉條紋的光強分布及偏振光強變化。配有的數顯式檢流計方形導軌長1.2m,中心高200mm
含半導體激光器
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